邏輯芯片部分功能檢測測試方案
芯片功能測試是電子產(chǎn)品制造過程中的一項(xiàng)重要步驟。它包括以下多個方面的測試，其中邏輯測試是比較重要的一部分：它包括功能測試、時序測試、性能測試、穩(wěn)定性測試等，主要通過檢測芯片內(nèi)部的邏輯電路是否正確、時序是否符合規(guī)定、性能是否達(dá)標(biāo)以及工作狀態(tài)是否穩(wěn)定來判斷芯片是否正常。
在這個測試過程中，一個滿足需求的信號是比較重要的，
首先檢查其外形是否完整，有無引腳脫落或者其他損壞情況。檢查完后可以接入電路，將芯片放置好之后，根據(jù)測試需要對不同引腳接入信號，信號是通過信號源（任意波發(fā)生器）來進(jìn)行實(shí)現(xiàn)的。選擇記錄輸入、輸出波形，并對波形進(jìn)行分析。運(yùn)用邏輯電平，通過電平判斷；兩種方式來判斷。
主要測試內(nèi)容：
通過信號源給邏輯芯片信號，利用示波器測量輸入輸出的脈沖信號的基本參數(shù)，進(jìn)行分析。
使用儀器：
泰克三系示波器
鼎陽SDG7102A信號源
線纜若干
測試需求：
?、兕l率為1kHz，4.5Vp-p，上升沿分別為為2ns，6ns的脈沖信號；
?、谀軝z測最小上升時間2ns的示波器；
?、圻壿嬓酒ヅ涞碾娐钒?/span>
儀器的選擇：
首先尋找一款能夠生成滿足信號要求的信號源：
信號源
信號源的選擇一方面得考慮可以生成滿足要求的信號，另一方面就得考慮生成信號的質(zhì)量
一般建議根據(jù)技術(shù)手冊查找后再實(shí)際使用儀器進(jìn)行實(shí)際輸出測試，確保理論和實(shí)際在一定范圍內(nèi)是吻合的，滿足需求。
示波器
尋找一款能夠滿足測試需求的示波器，這個就牽扯到示波器帶寬和上升時間的關(guān)系，首先要保證的就是儀器的上升時間快于信號的上升時間，那具體快多少，如何選擇呢？
這里就不得不提到示波器帶寬和上升時間的關(guān)系。具體來說說看
-3dB是按照信號的功率增益下降一半得出來的，大家都知道功率與電壓的平方成正比，故當(dāng)功率增益下降一半時，電壓隨著頻率增加降為原來的0.707倍。
比如給一個500MHz帶寬的示波器輸入一個500MHz，峰峰值為1V的方波信號，此時測出的結(jié)果約為0.7V，所以示波器對測量信號的幅度上也會有衰減。
根據(jù)上升時間的定義，幅度的誤差必然會導(dǎo)致上升時間的出錯，從而引入了誤差。在日常使用中，對示波器測得的上升時間，必須考慮到示波器對其的影響。
通常來說，可以根據(jù)示波器的帶寬，引入一個示波器自身上升時間的概念Ttro，其定義為Ttro=350/BW，BW即為示波器的帶寬。對于200MHz的示波器，可得Ttro=350/200MHz=1.75ns.而對于上升時間為t的信號來說，根據(jù)經(jīng)驗(yàn)公式，可以得出測量的上升時間為：
滿足需求的儀器準(zhǔn)備好之后就可以進(jìn)行具體測試了
測試過程記錄：
通過對芯片引腳施加脈沖信號，觀察輸出信號，通過數(shù)據(jù)進(jìn)行分析判斷傳輸時延時間，對比芯片對照手冊判斷是否滿足參數(shù)要求。
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